首页> 外文OA文献 >Electron-phonon interaction effects on the direct gap transitions of nanoscale Si films
【2h】

Electron-phonon interaction effects on the direct gap transitions of nanoscale Si films

机译:电子 - 声子相互作用对直接间隙跃迁的影响   纳米级硅膜

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

This study shows that the dielectric function of crystalline Si quantum wells(c-Si QW) is influenced by both carrier confinement and electron-phononinteractions. The energy shifts and lifetime broadening of the excitonic E1direct gap transition of c-Si QWs from 2 to 10 nm are found to have asignificant dimensional and temperature dependence that can be traced tochanges in the phonon dispersion of nanoscale films. The influence ofelectron-phonon interactions on the dielectric function was verified byaltering the phonon dispersion using different dielectric layers above a 5 nmc-Si QW.
机译:这项研究表明,晶体硅量子阱(c-Si QW)的介电功能受载流子限制和电子-声子相互作用的影响。发现c-Si QW的激子E1直接间隙跃迁从2到10 nm的能量转移和寿命拓宽具有明显的尺寸和温度依赖性,可以追溯到纳米级薄膜的声子色散变化。通过在5 nmc-Si QW上方使用不同的介电层改变声子色散来验证电子-声子相互作用对介电功能的影响。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号